因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.热膨胀系数（CTE）：测量范围1.010^-6/K至2510^-6/K

2.电导率梯度分布：分辨率达0.1S/m@25℃

3.表面残余应力：覆盖-2000MPa至+2000MPa量程

4.介电损耗角正切值：精度0.0001@1MHz

5.磁滞回线参数：最大磁场强度3000kA/m

6.红外发射率：光谱范围2.5-25μm

检测范围

1.金属合金：包括铝合金（AA6061）、钛合金（Ti-6Al-4V）等

2.高分子材料：聚酰亚胺薄膜（Kapton）、聚四氟乙烯（PTFE）等

3.陶瓷材料：氧化铝（Al₂O₃）、氮化硅（Si₃N₄）等

4.复合材料：碳纤维增强塑料（CFRP）、玻璃纤维层压板等

5.电子材料：焊锡合金（SAC305）、导电银浆等

检测方法

1.ASTME228-17：热膨胀系数推算法

2.ISO22007-4:2017：瞬态平面热源法测导热系数

3.GB/T22315-2008：金属材料残余应力X射线衍射法

4.IEC60250:1969：高频介电性能测试规程

5.GB/T3655-2008：软磁材料交流磁性能测量方法

6.ASTME423-71(2019)：非高温表面红外发射率测定法

检测设备

1.NetzschDIL402C热膨胀仪：温度范围-160℃~1600℃，符合ASTME228标准

2.KeysightE4990A阻抗分析仪：频率范围20Hz至120MHz，支持IEC60250测试

3.ProtoLXRD残余应力分析仪：Cr-Kα辐射源，满足GB/T22315要求

4.LinseisLFA1000激光导热仪：测试范围0.1~2000W/(mK)，符合ISO22007标准

5.LakeShore8600系列VSM振动样品磁强计：最大磁场3T，支持GB/T3655测试

6.BrukerVERTEX80v红外光谱仪：配备积分球附件，满足ASTME423要求

7.Instron5967双柱试验机：载荷容量50kN，集成DIC应变测量系统

8.AgilentB1500A半导体分析仪：支持IV/CV/脉冲特性测试

9.ZAHNERZennium电化学工作站：频率范围10μHz~4MHz

10.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：垂直分辨率0.5nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。