因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元素组成分析：测定样品中金属/非金属元素含量（精度0.1ppm），覆盖Li-U全元素范围。
2.晶体结构表征：分析晶格常数（误差≤0.001）、晶面取向及相组成。
3.表面形貌检测：测量表面粗糙度（Ra0.1-100nm）、微区缺陷尺寸（分辨率10nm）。
4.光学性能测试：包括吸收/反射光谱（波长范围200-2500nm）、荧光量子产率（误差2%）。
5.化学成分分布：通过Mapping模式实现微区成分扫描（步长1μm）。

检测范围

1.金属合金：铝合金（AA系列）、钛合金（Ti-6Al-4V）等高温合金成分验证
2.半导体材料：硅片（掺杂浓度1E15-1E20atoms/cm）、GaN外延层厚度测量
3.陶瓷及玻璃：氧化锆相变分析（单斜/四方相比例）、玻璃透光率测试
4.高分子材料：聚合物结晶度测定（DSC联用）、添加剂分布分析
5.环境样品：土壤重金属含量（Pb/Cd/As等）快速筛查

检测方法

1.ASTME1621-22：X射线荧光光谱法测定金属元素含量
2.ISO14707:2015：辉光放电光谱法表面成分分析
3.GB/T17359-2023：电子探针微区成分定量分析方法
4.ISO15470:2017：XPS表面化学态分析技术规范
5.GB/T40111-2021：激光诱导击穿光谱法现场检测标准

检测设备

1.ThermoScientificNicoletiS50FT-IR光谱仪：中红外光谱采集（4000-400cm⁻）
2.Agilent720ESICP-OES：多元素同步测定（检出限0.1ppb）
3.BrukerD8ADVANCEXRD：θ-θ测角仪（角度精度0.0001）
4.HitachiSU5000FE-SEM：场发射扫描电镜（分辨率0.8nm@15kV）
5.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532/785nm双激光源配置
6.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计：双光束设计（波长精度0.08nm）
7.ShimadzuEDX-8000能量色散X荧光仪：铑靶X射线管（50kV/100mA）
8.ZEISSAxioImagerA2m金相显微镜：5000:1动态对比度成像
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：高温附件支持1600℃原位测试
10.JEOLJXA-8530F电子探针：WDX/WDS联用系统（束斑1μm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。