因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.主成分含量测定：氟镓酸铵（NH4GaF4）纯度≥99.95%，采用差减法计算杂质总量
2.水分含量测试：游离水≤0.05%，结晶水≤0.3%（105℃恒重法）
3.重金属残留检测：Pb≤5ppm、As≤3ppm、Cd≤2ppm（ICP-MS法）
4.氟离子浓度分析：理论值53.80.5wt%（离子选择性电极法）
5.晶体结构表征：XRD谱图与PDF#35-0753标准卡匹配度≥98%

检测范围

1.光学镀膜用高纯氟镓酸铵靶材（纯度≥4N）
2.半导体外延生长前驱体材料（粒径D50=10-50μm）
3.激光晶体掺杂原料（Fe+≤0.001%）
4.催化反应体系助剂（比表面积≥15m/g）
5.稀土冶炼分离介质（Cl⁻≤0.01%）

检测方法

1.ASTME1479-2016《化学分析用标准物质制备规范》
2.ISO17034:2016《标准物质生产者能力要求》
3.GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法》扩展应用于重金属测定
4.JISK0115:2021《离子色谱法通则》用于阴离子分析
5.GB/T13301-2017《晶体材料X射线衍射分析方法》

检测设备

1.ThermoScientificDionexICS-6000离子色谱仪：氟离子定量分析（检出限0.01ppm）
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：粒径分布测试（量程0.01-3500μm）
3.PerkinElmerNexION350DICP-MS：痕量金属元素检测（分辨率0.3amu）
4.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪：结晶水测定（温度精度0.1℃）
5.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶体结构分析（2θ角精度0.0001）
6.Metrohm917Coulometer库仑法水分仪：微量水分测定（精度0.1μg）
7.Agilent725ICP-OES光谱仪：主量元素分析（波长范围175-785nm）
8.ShimadzuUV-2600i分光光度计：特定波长吸光度测试（带宽0.1-5nm）
9.JEOLJSM-7900F场发射电镜：微观形貌观察（分辨率0.8nm@15kV）
10.SartoriusCPA225D电子天平：精密称量（可读性0.01mg）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。