因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.反射率：测量激光波长（650nm/780nm）下的反射强度，典型参数≥70%（CD/DVD）或≥40%（BD）。
2.误码率（BER）：评估原始数据错误比例，要求≤1E-4（未校正状态）。
3.翘曲度：轴向偏差≤0.6mm（CD/DVD）或≤0.3mm（BD），采用平面度测试仪量化。
4.加速老化测试：85C/85%RH环境下持续96小时后的数据可读性验证。
5.抗划伤性：钢球划痕测试载荷≥500g（DVD/BD），划痕宽度≤0.3mm。

检测范围

1.CD-ROM/R/RW：聚碳酸酯基材与铝/金反射层组合介质
2.DVDR/RW/DL：多层有机染料与半透膜结构
3.蓝光光盘BD-R/RE：硬质涂层与相变记录层
4.档案存储光盘：金属合金无机记录层（如M-DISC）
5.可打印光盘：UV固化漆面与热转印兼容基板

检测方法

1.ISO/IEC9171-1:1990光盘机械特性测试规范
2.ISO/IEC30191:2015可录类光盘加速老化试验方法
3.ASTMD7332-07(2017)光学介质表面耐磨性测试
4.GB/T26595-2011光盘标识耐久性试验方法
5.GB/T34950-2017蓝光光盘存储寿命快速测评规范

检测设备

1.SentechSE850椭偏仪：非接触式反射率/相位差测量（精度0.1%）
2.Agilent8164B光波万用表：误码率与信号抖动分析（速率达12.5Gbps）
3.MitutoyoFlatnessTesterFV-300：平面度/翘曲度三维扫描（分辨率0.1μm）
4.ESPECPL-3KPH气候箱：温湿度循环老化试验（范围-70C~150C）
5.Taber5900线性划痕仪：可控载荷划伤测试（0.1-20N）
6.PerkinElmerLambda950分光光度计：透射/吸收光谱分析（175-3300nm）
7.PulstecODU-1000光盘参数分析仪：轨道间距与凹坑尺寸测量
8.SonyOptiarcAD-7690H驱动器：兼容性验证与纠错性能测试
9.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：表面粗糙度Ra值测定（0.1nm精度）
10.ShimadzuAG-XPlus万能试验机：基板抗弯强度测试（载荷20kN）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。