因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.纯度测定：采用化学滴定法测定主成分含量（CuI≥99.5%）
2.粒径分布：激光粒度分析仪测量D50值（范围0.1-50μm）
3.晶体结构分析：X射线衍射法（XRD）验证立方晶系特征峰（2θ=25.8,42.3,49.9）
4.杂质元素检测：ICP-OES测定铅（Pb≤10ppm）、镉（Cd≤5ppm）等重金属
5.水分含量：卡尔费休法控制游离水（H2O≤0.2%）

检测范围

1.电子级碘化亚铜（半导体封装材料）
2.催化剂用纳米碘化亚铜（粒径≤100nm）
3.光电材料前驱体（纯度≥99.99%）
4.化学试剂标准品（符合GB/T15897-2017）
5.医药中间体原料（满足USP/EP标准）

检测方法

1.ASTME975-20《X射线衍射定量相分析标准方法》
2.ISO11885:2007《水质-电感耦合等离子体发射光谱法》
3.GB/T23942-2009《化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
4.GB/T6283-2008《化工产品中水分含量的测定卡尔费休法》
5.JISK0067:1992《化学制品粒度分布测定方法》

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源，角度精度0.0001
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
3.PerkinElmerAvio500ICP-OES：轴向观测系统，检出限≤0.1ppb
4.Metrohm899Coulometer库仑法水分仪：分辨率0.1μgH2O
5.ShimadzuUV-2600i分光光度计：波长范围185-900nm
6.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪：温度范围25-1600℃
7.Agilent7890B气相色谱仪：FID检测器，检出限≤0.1ppm
8.BrukerS8TIGER波长色散X荧光光谱仪：Rh靶管电压60kV
9.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV
10.SartoriusCPA225D电子天平：量程220g/0.01mg

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。