因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.K层电子结合能测定：测量范围0.1-100keV，精度0.05eV
2.L层电离截面分析：截面分辨率110⁻⁰cm
3.俄歇电子产额检测：产额测量误差≤3%
4.特征X射线能量标定：能量范围0.3-20keV
5.非弹性散射截面测定：截面分辨率510⁻cm/sr

检测范围

1.金属合金：铝合金（AA6061）、钛合金（Ti-6Al-4V）
2.半导体材料：硅片（掺杂浓度1e15-1e20cm⁻）、GaN外延层
3.陶瓷材料：氧化铝（纯度≥99.9%）、氮化硅（厚度50-500nm）
4.高分子材料：聚酰亚胺薄膜（厚度10-200μm）
5.纳米材料：碳纳米管（直径1-50nm）、量子点（CdSe/ZnS核壳结构）

检测方法

1.ASTME902:2020X射线光电子能谱法
2.ISO15472:2010表面化学分析标准
3.GB/T19502-2004俄歇电子能谱分析方法
4.ISO21270:2004电荷中和技术规范
5.GB/T28632-2012电子能量损失谱测试规程

检测设备

1.ThermoScientificK-AlphaXPS光电子能谱仪：单色化AlKα源（1486.6eV）
2.JEOLJAMP-9500F俄歇纳米探针：空间分辨率6nm
3.BrukerQUANTAXEELS系统：能量分辨率0.7eV@200keV
4.ULVAC-PHIVersaProbeIV：多模式离子枪（0.1-5keV）
5.ShimadzuESCA-3400：半球型分析器（通过能量300eV）
6.OxfordInstrumentsINCAx-actSDD探测器：能量分辨率129eV
7.SPECSPHOIBOS150分析器：二维延迟线探测器
8.HitachiSU9000冷场发射电镜：加速电压0.5-30kV
9.GatanGIFQuantumER成像过滤器：能量窗口5-50eV
10.RBD1471电子倍增器：增益系数110⁶

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。