因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.化学成分分析：Ag含量≥62.5%、Te含量≥37.2%、杂质元素（Pb/Cu/Fe）≤0.05%
2.晶体结构表征：晶格参数a=4.350.02、c=5.950.03（六方晶系）
3.密度测试：8.02-8.15g/cm（25℃）
4.热稳定性测试：热失重≤0.3%（300℃/2h）
5.电导率测试：1.510S/m5%（25℃）

检测范围

1.天然矿物标本（单晶/多晶形态）
2.半导体靶材（纯度≥99.99%）
3.热电转换材料（Seebeck系数≥200μV/K）
4.光学镀膜材料（厚度50-500nm）
5.地质勘探样品（包裹体直径≤10μm）

检测方法

1.X射线衍射分析：ASTME975/GB/T23413-2009
2.X射线荧光光谱法：ISO3497/GB/T21114-2007
3.电感耦合等离子体发射光谱：ASTME1479/GB/T20975.25-2020
4.四探针电阻率测试：IEC60404-13/GB/T3048.2-2007
5.热重-差热联用分析：ISO11358/GB/T27761-2011

检测设备

1.RigakuSmartLab9kWX射线衍射仪（晶体结构分析）
2.ThermoFisherApreo2S场发射扫描电镜（微观形貌观测）
3.PerkinElmerAvio550ICP-OES（痕量元素检测）
4.NetzschSTA449F5同步热分析仪（热稳定性测试）
5.KeysightB2902A精密源表（电输运性能测试）
6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（粒径分布测定）
7.BrukerD8ADVANCEX射线荧光光谱仪（元素定量分析）
8.AgilentCary7000紫外可见分光光度计（光学性能表征）
9.MettlerToledoXPR6U超微量天平（样品称量精度0.1μg）
10.AntonPaarLitesizer500纳米粒度/Zeta电位仪（胶体分散性评估）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。