因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.表面粗糙度：Ra值范围0.01-10μm，Rz值测量精度5%
2.平面度误差：公差等级G1-G6(ISO12781)，最大允许误差0.5μm/m
3.材料硬度：维氏硬度HV0.1-HV1000测试载荷
4.反射率均匀性：波长400-1100nm范围内偏差≤2%
5.厚度偏差：测量分辨率0.1μm，允许公差0.5μm

检测范围

1.金属板材：航空铝合金/钛合金结构件
2.光学玻璃：非球面透镜/棱镜元件
3.半导体晶圆：8-12英寸硅片基板
4.高分子薄膜：LCD偏光膜/柔性显示基材
5.陶瓷基板：高密度电子封装基板

检测方法

1.ASTMD7127-2015非接触式表面粗糙度测量规程
2.ISO12781-2011几何产品规范(GPS)平面度评定
3.GB/T4340.1-2009金属维氏硬度试验方法
4.ISO13142-2015光学元件反射率光谱测定法
5.GB/T11344-2021超声波测厚仪校准规范

检测设备

1.TaylorHobsonFormTalysurfi-Series：接触式轮廓仪，分辨率0.8nm
2.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪：触针半径2μm，最大行程15mm
3.ZygoVerifireHDX激光干涉仪：波长632.8nm，精度λ/100
4.BrukerUMTTriboLab显微硬度计：载荷范围10mN-10N
5.OceanInsightFlame-T-VIS-NIR光谱仪：波长350-1000nm
6.KeyenceLT-9010M激光测厚仪：重复精度0.05μm
7.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：横向分辨率120nm
8.Agilent5500AFM原子力显微镜：Z轴分辨率0.1nm
9.MalvernPanalyticalZetasizerNanoZSP动态光散射仪
10.Instron5967万能试验机：载荷精度0.5%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。