因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.进位延迟时间：测量从输入信号触发到稳定输出所需时间（0.1-10ns精度）
2.电压阈值容差：验证高/低电平识别阈值（5%VDD范围）
3.动态功耗特性：记录不同频率下的电流波动（1MHz-1GHz扫描）
4.噪声抗扰度测试：注入50mV-500mV白噪声时的功能保持性
5.温度漂移系数：-40℃至125℃环境下的参数偏移量

检测范围

1.CMOS/TTL逻辑门电路：74系列、4000系列芯片
2.FPGA可编程器件：Xilinx7系列、AlteraStratixV
3.微处理器内核：ARMCortex-M/R/A系列
4.高速通信接口：PCIe5.0、DDR5物理层
5.车规级控制芯片：AEC-Q100认证器件

检测方法

1.ASTMF1153-10：数字集成电路动态特性测试规程
2.ISO/IEC15408-3：安全芯片功能验证方法
3.GB/T17574-2021：半导体器件通用规范
4.GB4943.1-2022：信息技术设备安全要求
5.JEDECJESD78E：集成电路闩锁效应测试标准

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：支持pA级电流测量
2.TektronixDPO73304SX示波器（33GHz带宽）：高速信号采集
3.AdvantestV93000SoC测试机：多通道并行测试能力
4.Chroma3380电源模拟器：动态负载调节精度0.02%
5.ThermoStreamT-2900温控系统：0.5℃温度稳定性
6.R&SFSW67信号分析仪：26.5GHz矢量网络分析
7.NIPXIe-5164数字化仪：14位分辨率/500MS/s采样率
8.AgilentN6705C模块电源：四象限输出特性
9.Fluke8588A参考表：8.5位数模转换精度
10.ESPECSH-642气候箱：复合环境应力模拟

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。