因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.矫顽力（Hc）：测量范围200-500Oe，精度1.5%
2.剩磁比（S*）：要求≥0.85，测试频率10kHz
3.信噪比（SNR）：基准值≥45dB@20MHz
4.温度稳定性：-40℃~85℃循环测试
5.耐久性测试：≥110^6次擦写循环

检测范围

1.磁光盘（MO）存储介质
2.相变型光磁薄膜材料
3.垂直磁记录介质（PMR）
4.热辅助磁记录（HAMR）读写头组件
5.多层膜结构封装材料

检测方法

1.ASTMA932-2018磁性材料直流磁特性测量
2.ISO11318:2021电子存储介质耐久性试验
3.GB/T15876-2020光盘存储介质通用规范
4.IEC62341-5光电器件环境试验方法
5.GB/T26248-2010信息存储介质电磁特性测试

检测设备

1.LakeShore8600系列振动样品磁强计（VSM）：测量精度0.5%
2.KeysightN9020BMXA信号分析仪：频率范围20Hz~26.5GHz
3.ThermoScientificCLIMATS环境试验箱：温控精度0.5℃
4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：分辨率0.1nm
5.Agilent4156C精密半导体参数分析仪：电流分辨率1fA
6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：Z轴分辨率10nm
7.HIOKIIM3590阻抗分析仪：测试频率4Hz~200MHz
8.Instron6800系列万能材料试验机：载荷精度0.05%
9.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计：波长范围175~3300nm
10.TektronixDPO70000SX示波器：带宽70GHz

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。