因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.畴壁厚度测量：分辨率0.1nm级扫描探针显微技术测定

2.界面能密度分析：基于洛伦兹透射电镜的电子能量损失谱(EELS)测试

3.磁滞回线参数：最大磁场强度3T条件下测量矫顽力(0.5Oe)

4.畴结构形貌表征：原子力显微镜(AFM)表面电势成像(精度5mV)

5.热稳定性参数：变温X射线衍射(20-800℃)测定相变温度点

检测范围

1.铁电材料：锆钛酸铅(PZT)、钛酸钡(BaTiO3)等钙钛矿型陶瓷

2.磁性薄膜：钴铁硼(CoFeB)、钆铁合金(GdFe)等溅射薄膜

3.多铁性复合材料：BiFeO3-CoFe2O4异质结体系

4.半导体材料：掺杂硅基铁电存储器单元

5.功能陶瓷：PMN-PT弛豫铁电单晶材料

检测方法

1.ASTMA977-15：旋转样品磁强计法测定静态磁滞特性

2.ISO2178:2016：非磁性基体磁性涂层厚度测量规范

3.GB/T22319-2022：铁电材料介电性能测试通则

4.IEC60404-5:2015：软磁材料磁性能测量方法

5.GB/T3389-2021：压电陶瓷材料性能测试方法

检测设备

1.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：配备PFM模块的纳米级电势成像

2.LakeShore7404振动样品磁强计：3T磁场下的磁滞回线测量

3.FEINovaNanoSEM450场发射电镜：10nm分辨率EBSD系统

4.RigakuSmartLabX射线衍射仪：高温原位相变分析系统

5.KeysightB1500A半导体分析仪：10fA级漏电流测试能力

6.OxfordInstrumentsVersaLabVSM：低温(1.9K)磁学特性测试平台

7.ParkSystemsNX20AFM：0.1nm垂直分辨率的压电力显微镜

8.QuantumDesignPPMSDynaCool：9T磁场综合物性测量系统

9.HitachiHF5000透射电镜：原子级分辨的洛伦兹成像模式

10.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频段介电谱测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。