因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元素定性分析：检出限0.01%-100%，可识别原子序数11(Na)至92(U)元素
2.定量成分测定：铁基材料测量精度0.03wt%，轻元素(C,O,N)精度0.15wt%
3镀层厚度测量：分辨率0.01μm（5-50μm范围）
4.相结构分析：晶格常数测定误差≤0.0005nm
5.有害物质筛查：RoHS指令六项管控物质检出限5ppm

检测范围

1.金属合金：铝合金（AA6061）、钛合金（Ti-6Al-4V）等航空航天材料
2.矿物矿石：铁矿石（Fe≥62%）、铜精矿（Cu20-30%）等地质样品
3.电子元件：PCB板焊料（SnAgCu合金）、芯片封装材料
4.环境样品：土壤重金属（Cd/Pb/As）、大气颗粒物成分
5.化工产品：催化剂贵金属含量（Pt/Pd/Rh）、油品硫元素测定

检测方法

1.ASTME1621-13：能量色散X射线荧光光谱法通则
2.ISO3497:2000：金属镀层厚度X射线光谱测量法
3.GB/T223.5-2008：钢铁酸溶铝测定波长色散法
4.JISK0119:2017：X射线荧光分析通则
5.GB/T21114-2007：耐火材料X射线荧光化学分析

检测设备

1.ThermoScientificARLPERFORM'X：波长色散型，配备4kWRh靶管，可测B-U元素
2.岛津EDX-7000：能量色散型，硅漂移探测器分辨率125eV
3.BrukerS8TIGER：全反射XRF系统，检出限达ppb级
4.PANalyticalAxiosmAX：顺序式WDXRF，配备10位晶体交换器
5.天瑞仪器EDX3600B：RoHS专用机型，集成Hg冷阱系统
6.RigakuZSXPrimusIV：真空光路设计，配备50mm准直器
7.HORIBAXGT-7000：微区分析型，空间分辨率10μm
8.普析通用M6Jetstream：全反射技术+单色聚焦光学系统
9.SpectroXeposIII：偏振激发ED-XRF，配备三滤光片轮
10.ElvatechEDXRFPro：便携式设计，IP65防护等级

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。