因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.物相定性分析：2θ扫描范围5-80，CuKα辐射(λ=1.5406)，步长0.02，计数时间0.5s/step

2.定量相分析：Rietveld精修法，全谱拟合误差＜3%，检出限0.5wt%

3.晶粒尺寸测定：Scherrer公式计算，半高宽校正范围10-200nm

4.残余应力测试：sinψ法测量，Ψ角范围0-45，Cr靶材(λ=2.2897)

5.结晶度分析：峰面积积分法计算非晶散射背景占比

检测范围

金属材料：铝合金时效析出相分析、钛合金α/β相比例测定

无机非金属：陶瓷材料晶型转变温度测定、玻璃析晶度评估

半导体材料：单晶硅位错密度测定、GaN外延层取向偏差分析

地质矿物：石英多型鉴定、长石有序度测定

药品原料：API晶型鉴别、共晶药物相纯度验证

检测方法

ASTME915-16：残余应力测试标准方法

ISO20203:2005：铝氧化物α相含量测定规范

GB/T8362-2018：金属材料多晶体X射线衍射分析方法

GB/T23413-2023：纳米材料晶粒尺寸测定通则

ISO19962:2021：药物结晶度XRD测定技术指南

检测设备

RigakuSmartLab：9kW旋转阳极光源，配备高温附件(1600℃)

BrukerD8ADVANCE：LynxEye阵列探测器，微区衍射空间分辨率10μm

PANalyticalEmpyrean：PIXcel3D探测器系统，支持薄膜GI-XRD模式

ShimadzuXRD-7000：θ-θ测角仪结构，最大样品重量5kg

ThermoFisherARLEQUINOX3000：便携式设计，野外现场快速分析

MalvernPanalyticalAerisResearch：桌面型配置，满足常规实验室需求

ProtoLXRD：残余应力专用机型，集成激光定位系统

BedeD1System：高分辨率三轴测角仪，最小步进0.0001

HuberG670GuinierCamera：薄膜反射率与掠入射测量模块

InelEquinox2000：实时动态采集系统，适用于反应过程监测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。