因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.频率响应特性（1MHz-40GHz）
2.温度稳定性（-50℃~200℃）
3.介电损耗角正切值（tanδ≤0.001）
4.复介电常数实部（ε'=2.0-12.0）
5.阻抗匹配度（VSWR≤1.5:1）

检测范围

1.高分子聚合物材料（PTFE/PEI/PEEK）
2.陶瓷基复合材料（Al₂O₃/Si₃N₄/AlN）
3.微波介质基板（RO4003C/FR-4/RogersRT/duroid）
4.半导体封装材料（EMC/Underfill）
5.生物医学传感器介质层（PDMS/Parylene）

检测方法

1.ASTMD150-18：平行板电容法（10kHz-1MHz）
2.IEC60250：波导谐振腔法（1GHz-40GHz）
3.GB/T1409-2006：高压电桥法（工频至100kHz）
4.ISO6721-2：动态介电分析（DETA）
5.GB/T1693-2007：同轴探头法（100MHz-3GHz）

检测设备

1.KeysightE4991B阻抗分析仪（20Hz-3GHz/0.8%）
2.Agilent4294A精密阻抗分析仪（40Hz-110MHz/0.05%）
3.AnritsuMS46122B矢量网络分析仪（10MHz-40GHz/1%）
4.NovocontrolConcept80宽频介电谱仪（1μHz-20MHz）
5.SPEAGDAK-TL12同轴探头系统（200MHz-20GHz）
6.QuadTech7600精密LCR表（20Hz-2MHz/0.05%精度）
7.Rhode&SchwarzZNB40矢量网络分析仪（100kHz-40GHz）
8.TAInstrumentsDEA2900动态介电分析仪（0.01Hz-1MHz）
9.GWInstekLCR-8105G高频测试仪（20Hz-5MHz/0.05%）
10.MeggerIDAX350绝缘诊断系统（工频介质损耗测量）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。