因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.基体元素种类及含量：测定主量元素（≥1wt%）与痕量元素（ppm级）

2.晶格常数测定：精度达0.001的三维晶胞参数

3.缺陷密度分析：位错密度范围10-10⁶/cm定量表征

4.原子分布均匀性：CV值≤5%的二维/三维分布图

5.表面吸附杂质：单层覆盖率＜0.1%的污染检测

检测范围

1.金属合金：钛合金/镍基高温合金/铝合金基体分析

2.半导体材料：硅晶圆/砷化镓外延层/氮化镓薄膜

3.陶瓷材料：氧化铝/碳化硅/氮化硼基体结构

4.纳米粉末：粒径＜100nm的金属/氧化物粉末

5.高分子复合材料：碳纤维增强塑料基体界面

检测方法

1.X射线衍射法（XRD）：ASTME975-20/GB/T8362-2018

2.扫描电子显微镜法（SEM）：ISO16700:2016/GB/T27788-2020

3.透射电子显微镜法（TEM）：ISO25498:2018/GB/T36065-2018

4.X射线光电子能谱法（XPS）：ISO18118:2022/GB/T29556-2013

5.二次离子质谱法（SIMS）：ASTME1504-21/GB/T40129-2021

检测设备

1.ThermoScientificK-AlphaXPS系统：表面元素化学态分析

2.RigakuSmartLabXRD衍射仪：晶体结构多轴分析

3.JEOLJSM-7900F场发射SEM：1nm分辨率形貌观测

4.FEITalosF200XTEM：亚埃级晶格成像系统

5.CAMECAIMS7fSIMS：ppb级深度剖析仪

6.BrukerD8ADVANCEXRD：高温原位相变分析仪

7.HitachiRegulus8230冷场SEM：低电压纳米成像系统

8.OxfordInstrumentsAZtecEDS系统：面分布能谱分析模块

9.Agilent7900ICP-MS：多元素同步定量系统

10.ParkNX20AFM：原子级表面拓扑测量仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。