因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.键长测定：X射线衍射法测量C≡C/C≡N键长（0.12-0.14nm精度）
2.振动频率分析：红外光谱测定三键伸缩振动（2000-2300cm⁻范围）
3.热稳定性测试：TGA法评估分解温度（200-500℃区间）
4.电子密度分布：XPS表征三键区域结合能（284-290eV范围）
5.反应活性验证：HPLC监测炔烃点击反应转化率（≥98%）

检测范围

1.有机合成中间体：炔丙胺类化合物、氰基丙烯酸酯单体
2.高分子聚合物：聚乙炔导电材料、氰酸酯树脂基体
3.金属有机框架：含炔基配体的MOF材料
4.医药原料药：含氰基结构的抗肿瘤药物前体
5.功能涂层材料：三键改性的环氧树脂防腐涂层

检测方法

1.ASTME1252-17红外光谱法定性分析三键特征峰
2.ISO14707:2015XPS深度剖析表面三键分布
3.GB/T19466.3-2004差示扫描量热法测定热稳定性
4.ASTMD5296-05核磁共振碳谱定量分析三键含量
5.GB/T30430-2013X射线衍射晶体结构解析标准

检测设备

1.BrukerD8ADVANCEXRD：0.0001角度分辨率晶体结构分析
2.ThermoFisherNicoletiS50FTIR：4cm⁻分辨率红外光谱采集
3.NetzschSTA449F5Jupiter：同步热分析（TGA-DSC联用）
4.Agilent1260InfinityIIHPLC：二元高压梯度色谱分离系统
5.ShimadzuESCA-3400XPS：MgKα射线源表面成分分析
6.BrukerAVANCEIIIHD600MHzNMR：13C核磁定量检测
7.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：原位高温附件（1200℃）
8.PerkinElmerLambda950UV-Vis：固体漫反射光谱测试
9.MettlerToledoTGA/DSC3+：超微量样品热重分析（0.1μg）
10.JEOLJEM-ARM300FTEM：原子级分辨率电子能量损失谱

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。