因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.端口间数据传输速率：验证DDR4/DDR5模式下单通道速率达3200-6400MT/s
2.信号完整性测试：眼图高度≥120mV@10GHz带宽，抖动值≤0.15UI
3.功耗特性分析：待机功耗≤50mW，读写峰值功耗≤3.5W@1.2V
4.时序一致性验证：tRCD/tRP/tRAS参数偏差＜5%
5.温度稳定性测试：-40℃~125℃工作范围内误码率≤1E-12

检测范围

1.服务器双列直插式内存模块(DIMM)
2.网络交换机板载缓存芯片
3.工业控制系统的非易失性存储单元
4.消费级嵌入式多媒体存储卡(eMMC)
5.车规级LPDDR4X图形处理存储器

检测方法

1.信号质量分析依据ASTMF1243-18高速数字信号测试规范
2.功耗特性测试参照ISO10373-8:2021近场电磁兼容测量法
3.时序验证采用GB/T26248-2010同步动态存储器测试规程
4.环境可靠性试验执行GJB548B-2005微电子器件试验方法
5.协议一致性测试遵循JEDECJESD79-5BDDR5SDRAM标准

检测设备

1.KeysightInfiniiumUXR1104A示波器：110GHz带宽，支持PAM4眼图分析
2.TektronixAWG70000任意波形发生器：50GS/s采样率，模拟复杂总线协议
3.Chroma63123A存储器件测试系统：支持DDR5/LPDDR5全参数自动化测试
4.AdvantestT5830HS高速数字IC测试机：最高8Gbps矢量速率
5.NIPXIe-5164数据采集卡：14位分辨率，2.5GS/s同步采样
6.ThermoStreamT-2600C温控系统：-70℃~+225℃精确温变控制
7.R&SZNB40矢量网络分析仪：40GHz频段S参数测量
8.XilinxVCU128原型验证平台：实现FPGA级协议栈仿真
9.CadencePalladiumZ2硬件仿真器：系统级功耗建模与验证
10.FlukeTi450红外热像仪：微米级热分布成像分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。