因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.表面电阻率测量：测量范围110^-3-110¹²Ωcm，分辨率0.1%

2.接触阻抗分析：频率范围20Hz-1MHz，最大测试电流100mA

3.漏电流检测：灵敏度0.1pA，电压范围50V

4.极化特性测试：扫描速率0.1-100mV/s，电位窗口5V

5.电容-电压特性：测试频率1kHz-1MHz，电容分辨率0.01pF

检测范围

1.半导体晶圆材料（硅片、GaAs、SiC等）

2.透明导电薄膜（ITO、FTO、AZO等）

3.印刷电子器件（柔性电极、RFID天线）

4.生物传感器电极（葡萄糖传感器、DNA芯片）

5.储能材料（超级电容器电极、锂电集流体）

检测方法

ASTMB539-20：导电材料接触电阻标准测试方法

ISO1853:2018：导电橡胶体积电阻率测定

GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

IEC62631-3-1:2016：介电和电阻特性测量规范

GB/T24525-2009：金属覆盖层表面导电性能测试方法

检测设备

1.KeysightB1500A半导体分析仪：支持DC-1MHz阻抗测量及脉冲I-V测试

2.Keithley4200A-SCS参数分析仪：具备fA级电流分辨率的微电流测试系统

3.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪：频率范围10μHz-200kHz的宽频阻抗测量

4.AgilentE4980AL精密LCR表：基础精度0.05%的电容/电感/电阻测量模块

5.CascadeM150探针台：配备真空吸附和热控功能的晶圆级测试平台

6.JandelRM3000四探针测试系统：自动量程切换的薄膜电阻率测量装置

7.ZahnerZenniumPro电化学工作站：集成M470模块的阻抗谱分析系统

8.MitsubishiMCP-T700微接触探针：尖端曲率半径1μm的钨合金探针组件

9.FormFactorCM300xi-ULN探卡系统：支持300mm晶圆的全自动多点测试平台

10.HIOKIRM2610高阻计：最大量程210¹⁸Ω的超高绝缘电阻测量仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。