因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.平面度误差：测量范围0.1-500μm，分辨率0.01μm
2.表面粗糙度：Ra0.025-6.3μm/Rz0.1-25μm
3.波纹度：波长0.1-10mm/幅值0.1-50μm
4.局部凹陷/凸起：缺陷尺寸≥10μm10μm
5.三维形貌偏差：Z轴分辨率≤5nm/XY重复精度0.2μm

检测范围

1.金属材料：铝合金板材（厚度0.5-50mm）、不锈钢精密冲压件
2.光学元件：非球面透镜（曲率半径50-2000mm）、棱镜工作面
3.电子元件：半导体晶圆（直径200-300mm）、FPC柔性电路板
4.陶瓷基板：氮化铝基板（厚度0.3-3mm）、氧化锆结构件
5.复合材料：碳纤维增强板（铺层角度0-90）、金属陶瓷复合涂层

检测方法

1.ISO12781:2011《几何产品规范(GPS)平面度》
2.ASTMD7127-17《非接触式光学轮廓仪测量表面粗糙度》
3.GB/T10610-2009《产品几何技术规范表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法》
4.ISO25178-2:2022《产品几何量技术规范(GPS)表面结构:区域法》
5.GB/T29531-2013《滑动轴承几何公差和表面粗糙度的测量与评定》

检测设备

1.TaylorHobsonPGI3D轮廓仪：三维形貌测量（Z轴分辨率1nm）
2.MitutoyoSJ-410粗糙度仪：接触式Ra/Rz测量（评估长度0.25-12.5mm）
3.ZygoNewView9000激光干涉仪：非接触式面形测量（口径300mm）
4.KeyenceVR-5000三维扫描系统：大尺寸工件测量（最大800600mm）
5.OlympusLEXTOLS5000激光显微镜：纳米级表面分析（12000超分辨模式）
6.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂：便携式曲面测量（精度0.015mm）
7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：薄膜表面起伏测量（垂直分辨率0.1nm）
8]ZeGagePlus数字全息系统：快速全场测量（每秒10000个数据点）
9]MarSurfLD260旋转式测量仪：圆柱体表面波纹度分析（转速10-1000rpm）
10]Optoflat电子平晶仪：平面度在线检测（测量直径Φ300mm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。