因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.位错密度测定：测量范围10⁴-10¹²cm^-2，误差≤5%
2.伯格斯矢量分析：精度达0.01nm
3.位错线形态表征：曲率半径测量分辨率0.1nm
4.滑移系激活判定：临界分切应力测量范围50-500MPa
5.位错网络拓扑分析：节点间距测量精度2nm

检测范围

1.金属材料：铝合金（AA6061-T6）、钛合金（Ti-6Al-4V）
2.半导体晶圆：单晶硅片（Φ200mm）、砷化镓衬底
3.陶瓷材料：氧化铝（Al₂O₃）、氮化硅（Si₃N₄）
4.高温合金：镍基超合金（Inconel718）
5.复合材料：碳化硅纤维增强钛基复合材料

检测方法

1.ASTME112-13：晶粒度测定中的位错密度计算法
2.ISO24173:2009：透射电镜位错分析标准流程
3.GB/T13298-2015：金属显微组织检验方法
4.ASTMF1811-97(2019)：X射线衍射位错表征规程
5.ISO16700:2016：扫描电镜电子通道衬度成像技术

检测设备

1.JEOLJEM-2100F场发射透射电镜：分辨率0.19nm，配备GatanOriusSC200相机
2.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪：Cu靶Kα辐射（λ=0.15406nm）
3.ZeissCrossbeam550聚焦离子束-SEM联用系统：定位精度5nm
4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：空间分辨率3nm
5.GatanK3-IS直接电子探测器：帧率40fps@4k4k分辨率
6.ShimadzuHMV-G21显微硬度计：载荷范围10-2000gf
7.FEITalosF200XS/TEM：STEM模式分辨率0.16nm
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台：高温附件支持1600℃原位测试
9.HitachiHF5000冷场发射电镜：点分辨率0.1nm@200kV
10.Keysight9500原子力显微镜：Z轴分辨率0.01nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。