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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1.氮掺杂含量:采用XPS测定氮原子百分比(at%),检测范围0.5-15.0%
2.层间距分析:通过HRTEM测量石墨层间距(0.34-0.38nm),精度0.02nm
3.比表面积测试:BET法测定比表面积(200-600m/g),孔径分布范围1-50nm
4.导电性能:四探针法测量电阻率(10⁻⁴-10⁻Ωcm),温度范围25-300℃
5.热稳定性分析:TGA测定失重曲线(25-800℃),升温速率10℃/min
1.复合材料基体:聚合物/金属基纳米增强材料
2.催化剂载体:燃料电池阴极催化剂载体
3.储能器件:锂离子电池/超级电容器电极材料
4.传感器元件:气体/生物传感器敏感材料
5.电磁屏蔽材料:5G通信屏蔽复合材料
1.ASTME1683:拉曼光谱法测定碳材料结构缺陷度
2.ISO15472:XPS表面元素化学态分析
3.GB/T30451:透射电镜纳米材料形貌表征
4.ISO9277:BET比表面积及孔径分布测试
5.GB/T351-2019:四探针法半导体材料电阻率测定
6.ASTME1131:热重分析法测定材料热稳定性
1.场发射扫描电镜(FE-SEM):JEOLJSM-7900F,分辨率0.8nm
2.X射线光电子能谱仪(XPS):ThermoScientificK-Alpha+,能量分辨率0.5eV
3.物理吸附分析仪:MicromeriticsASAP2460,孔径分析范围0.35-500nm
4.高分辨透射电镜(HRTEM):FEITalosF200X,点分辨率0.16nm
5.四探针测试系统:LucasLabsSYS-301C,电流范围1nA-100mA
6.同步热分析仪(TGA-DSC):NETZSCHSTA449F5,温度精度0.1℃
7.拉曼光谱仪:RenishawinViaQontor,激光波长532nm/785nm
8.X射线衍射仪(XRD):BrukerD8ADVANCE,角度精度0.0001
9.电化学工作站:Bio-LogicVMP-300,频率范围10μHz-1MHz
10.原子力显微镜(AFM):BrukerDimensionIcon,扫描范围90μm90μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。