因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

透光率：波长范围400-1100nm内全光谱透射比≥85%，雾度≤1.5%

热膨胀系数：20-300℃区间线性膨胀量测量，(5.0-8.5)10^-6/K

维氏硬度：载荷500gf下HV≥600kgf/mm

抗弯强度：三点弯曲法测试≥120MPa

晶相结构：XRD分析主晶相占比≥95%，晶粒尺寸20-50nm

检测范围

高精度光学透镜：用于激光准直系统与红外成像设备的光学基片

微电子封装基板：多层陶瓷电路板与芯片载体的热机械性能评估

激光器窗口材料：CO₂激光器输出镜片的耐高温性能测试

光刻掩膜版基材：紫外波段（365nm）透射均匀性验证

辐射屏蔽组件：γ射线衰减率与结构完整性联合检测

检测方法

透光率测定：ASTMD1003双光束分光光度法

热膨胀系数测试：ISO11359-2热机械分析仪升温速率3℃/min

维氏硬度测量：GB/T4340.1显微压痕法保载时间15s

抗弯强度试验：ISO14705三点弯曲夹具跨距30mm

晶相定量分析：JCPDSPDF卡片库全谱拟合Rietveld精修法

检测设备

PerkinElmerLambda950紫外-可见-近红外分光光度计：波长精度0.08nm

NetzschDIL402ExpedisClassic热膨胀仪：温度分辨率0.1℃

WilsonWolpert402MVD显微硬度计：光学放大倍数400X

Instron5967万能材料试验机：载荷精度0.5%满量程

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：Cu靶Kα辐射λ=1.5406

LeicaDM2700M偏光显微镜：配备CETRUM软件晶粒度分析模块

Agilent7900ICP-MS质谱仪：检出限≤0.1ppb重金属杂质

MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪：Z轴分辨率0.01μm

ShimadzuEDX-7000能量色散光谱仪：元素分析范围B-U

ThermoScientificNicoletiS50FTIR红外光谱仪：波数精度0.01cm^-1

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。