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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1.粒径分布:测定D10/D50/D90百分位数值(0.1-3500μm)
2.比表面积:采用BET法测量(0.01-2000m/g)
3.形状系数:计算球形度(0-1)与长径比(≥1)
4.孔隙率:通过压汞法分析(孔径2nm-500μm)
5.团聚指数:评估二次颗粒分散特性(0-100%)
1.金属粉末:钛合金/铝合金/铜基粉末(冶金3D打印)
2.陶瓷原料:氧化铝/碳化硅/氮化硅粉体(精密陶瓷制备)
3.医药颗粒:API原料药/药用辅料(固体制剂研发)
4.纳米材料:石墨烯/量子点/纳米氧化锌(新能源领域)
5.工业粉体:水泥/碳酸钙/滑石粉(建材与涂料行业)
1.激光衍射法:ASTMB822-20/ISO13320:2020/GB/T19077-2016
2.动态光散射法:ISO22412:2017/GB/T19627-2022(纳米颗粒)
3.筛分分析法:ASTME11-20/GB/T6005-2020(>45μm颗粒)
4.图像分析法:ISO13322-2:2021/GB/T21649.1-2008
5.沉降法:ISO13317-3:2001/GB/T6524-2003(斯托克斯定律)
1.Mastersizer3000(马尔文帕纳科):激光衍射系统(0.01-3500μm)
2.LS13320XR(贝克曼库尔特):全自动粒度粒形分析仪
3.CAMSIZERX2(麦奇克):动态图像分析系统(1μm-30mm)
4.NanotracWaveII(麦奇克):纳米粒度Zeta电位仪(0.3nm-10μm)
5.BT-9300ST(丹东百特):激光散射集成超声分散系统
6.HELOS/KR(Sympatec):干湿法两用激光粒度仪
7.S3500(美国麦克仪器):全自动筛分振动台
8.SA-PL2010(岛津制作所):离心沉降式粒度仪
9.Morphologi4(马尔文帕纳科):静态图像分析系统
10.TriStarIIPlus(美国麦克仪器):全自动比表面分析仪
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。