因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.时钟频率精度：测量实际输出与标称值的偏差范围（10ppm至100ppm）

2.占空比偏差：量化高/低电平时间比例误差（1%至5%）

3.抖动特性分析：包括周期抖动（<5psRMS）、长期抖动（<50pspk-pk）

4.相位噪声谱密度：-100dBc/Hz@10kHz偏移至-150dBc/Hz@1MHz偏移

5.同步误差测试：多通道间时序对齐精度（≤200ps）

检测范围

1.半导体芯片：CPU/GPU/FPGA内部时钟树网络

2.5G通信模块：基站射频单元本振信号链

3.石英晶体振荡器：TCXO/OCXO/VCTCXO器件

4.工业控制设备：PLC系统同步脉冲信号

5.汽车电子系统：ADAS传感器时序同步总线

检测方法

ASTMF3569-22《电子设备时钟信号完整性测试规程》

ISO18947:2021《微电子器件时序特性测量方法》

GB/T26252-2021《数字集成电路时序参数测试方法》

GB11463-1989《电子测量仪器通用技术条件》

IEC62132-5:2018《集成电路电磁兼容-时钟辐射测试》

检测设备

KeysightDSAX96204Q：120GHz带宽示波器，支持Jitter@HD高级抖动分析

TektronixDPO70000SX：70GHz实时采样示波器，配备ClockInspector软件包

R&SFSWP67：50GHz相位噪声分析仪，灵敏度达-180dBc/Hz

AnritsuMP1900A：32Gb/s误码率测试仪，集成J-BERT时序分析功能

SiglentSSA3032X-R：9kHz~3.2GHz频谱分析仪，支持时域相位噪声测量

AdvantestT6391A：多通道时间间隔分析仪，分辨率0.5psRMS

ChromatecCMT-1000：温度循环测试箱（-55℃~+150℃）带时频参数监测接口

NationalInstrumentsPXIe-5171R：18位高精度数字化仪，同步采样率5GS/s

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。