因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.表面粗糙度：Ra值（0.01-6.3μm）、Rz值（0.05-25μm）
2.平面度误差：公差范围0.5-50μm
3.圆度公差：直径偏差0.1-200μm
4.直线度偏差：轴向偏移量1-500μm/m
5.同轴度误差：轴线偏移量2-300μm

检测范围

1.金属材料：铝合金/钛合金结构件
2.光学元件：透镜/棱镜/反射镜基材
3.精密机械零件：轴承/导轨/齿轮组件
4.电子元器件：半导体晶圆/封装基板
5.复合材料：碳纤维增强聚合物(CFRP)构件

检测方法

1.ISO12180:2011《几何产品规范(GPS)圆柱度》
2.ASTME112-13《平均晶粒度测定标准》
3.GB/T11337-2004《平面度误差测量》
4.ISO4287:1997《表面结构轮廓法术语定义》
5.GB/T10610-2009《表面粗糙度比较样块校准规范》

检测设备

1.泰勒霍普森Talyrond585圆度仪（径向误差0.025μm）
2.三丰MitutoyoCrysta-ApexS系列三坐标机（空间精度0.6+L/400μm）
3.蔡司ZeissSurfcom5000表面轮廓仪（垂直分辨率0.8nm）
4.海克斯康LeitzPMM-C超高精度测量机（最大允许误差0.3μm）
5.KeyenceLJ-V7000激光位移传感器（采样频率392kHz）
6.RenishawXL-80激光干涉仪（线性测量精度0.5ppm）
7.MahrFederalMarSurfLD260粗糙度仪（评估长度0.25-12.5mm）
8.OGPSmartScopeFlash500多传感器系统（光学放大倍率200X）
9.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂（单点重复性15μm）
10.NikonNEXIVVMZ-S656T视频测量系统（双远心光学系统）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。