因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.纯度分析：主含量In ₂ O ₃ ≥99.95%，杂质总量≤0.05%
2.杂质元素检测：Fe≤10ppm、Cu≤5ppm、Pb≤3ppm、Zn≤8ppm
3.粒径分布：D50=50-200nm（激光散射法），分散度PDI＜0.25
4.比表面积：BET法测定3-15m/g
5.晶体结构分析：立方晶系（Ia-3空间群），晶格常数a=10.1170.003

检测范围

1.半导体靶材（ITO溅射靶材）
2.透明导电薄膜原料
3.气敏传感器敏感材料
4.高温陶瓷添加剂
5.锂离子电池负极改性材料

检测方法

1.GB/T23413-2009《纳米氧化铟化学分析方法》
2.ASTME1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法》
3.ISO13320:2020《激光衍射法粒度分析通则》
4.GB/T19587-2017《气体吸附BET法比表面积测定》
5.JCPDS06-0416《X射线衍射物相鉴定标准图谱》

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：物相分析与晶体结构测定
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：纳米级粒径分布测试
3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：BET比表面积及孔径分布测定
4.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：痕量金属杂质元素定量分析
5.NetzschSTA449F3同步热分析仪：热稳定性与分解温度测试
6.ZeissSigma500场发射电镜：微观形貌观察及EDS成分映射
7.AgilentCary7000紫外可见近红外分光光度计：光学透过率测试（300-2500nm）
8.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：分子振动模式与缺陷分析
9.MettlerToledoXP6微量天平：称量精度0.001mg
10.AntonPaarLitesizer500纳米电位仪：Zeta电位及胶体稳定性评估

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。