因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.中心波长偏差：0.5nm@1550nm波段
2.半峰全宽（FWHM）：≥3.5nm@-3dB点
3.通带平坦度：≤0.3dB@0.5nm偏移
4.边模抑制比：≥35dB@通带外2nm
5.温度漂移特性：≤0.005nm/℃（-40℃~85℃）

检测范围

1.光学薄膜滤光片（介质膜/金属膜）
2.光纤布拉格光栅（FBG）器件
3.半导体激光器输出光谱
4.微波射频滤波器（腔体/微带型）
5.光电探测器响应频带

检测方法

1.ASTME275-08(2017)：分光光度计法测定光谱带宽
2.ISO13697:2006光学激光元件光谱特性测试规范
3.GB/T13323-2009光电子器件参数测量方法
4.IEC61300-3-7:2021光纤互连器件光谱响应测试
5.GB/T26596-2011微波滤波器通用规范

检测设备

1.AgilentCary7000紫外可见近红外分光光度计（波长范围175-3300nm）
2.AnritsuMS9740B光谱分析仪（分辨率0.02nm@1550nm）
3.KeysightN5227A矢量网络分析仪（频率10MHz-67GHz）
4.BrukerVERTEX80v傅里叶红外光谱仪（远红外波段检测）
5.Newport818-ST2光电探测器（响应带宽12GHz）
6.EXFOXTM-50可调谐激光光源（波长精度1pm）
7.FlukePM6681高精度频率计数器（时间基准稳定性510⁻⁹/日）
8.ThorlabsOSA205C紧凑型光谱分析仪（C波段+L波段覆盖）
9.Rohde&SchwarzFSW67信号与频谱分析仪（分析带宽510MHz）
10.LabsphereLMS-7600单色仪系统（杂散光抑制比10⁻⁸）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。