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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1. 谱线半高宽(FWHM):测量波长范围380-780nm,精度±0.005nm
2. 温度相关性分析:温度范围300-3000K,分辨率±5K
3. 粒子速度分布函数:速度分辨率0.1m/s
4. 压力展宽系数:压力范围10-3-103Pa
5. 同位素丰度比:相对误差≤0.01%
1. 核反应堆燃料元件(UO2/PuO2)
2. 高温合金涡轮叶片(Ni基/Co基合金)
3. 半导体掺杂材料(Si/Ge晶圆)
4. 等离子体诊断靶材(LiF/Al薄膜)
5. 航天器热防护涂层(ZrB2-SiC复合材料)
1. ASTM E305-2021:标准光谱线轮廓测定规程
2. ISO 19219:2015:激光诱导击穿光谱法通则
3. GB/T 32282-2015:原子发射光谱分析方法通则
4. ISO 13167:2022:等离子体质谱法测定金属杂质
5. GB/T 40111-2021:核材料同位素丰度测定规范
1. Ocean Optics HR4000高分辨率光谱仪(光学分辨率0.035nm)
2. Keysight N7714A可调谐激光源(波长范围1260-1630nm)
3. Horiba LabRAM HR Evolution显微拉曼系统(空间分辨率0.5μm)
4. Bruker VERTEX 80v真空傅里叶红外光谱仪(波数精度0.01cm-1)
5. Agilent 8900三重四极杆ICP-MS(质量分辨率0.025amu)
6. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-OES(检出限0.1ppb)
7. PerkinElmer LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计(波长精度±0.08nm)
8. Shimadzu GCMS-QP2020 NX气相色谱质谱联用仪(质量范围1.5-1090m/z)
9. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪(角度重复性±0.0001°)
10. JEOL JEM-ARM300F球差校正透射电镜(点分辨率0.05nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。