因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 表面反射率：测量波长范围400-1600nm内反射率≥99.5% @632.8nm

2. 表面粗糙度：Ra≤0.5nm（RMS≤0.8nm）@1×1mm²采样区域

3. 角度偏差：直角棱镜90°±3"，五角棱镜45°±2"

4. 面形精度：PV值≤λ/10 @632.8nm（λ=633nm）

5. 镀膜均匀性：膜厚公差±2% @532nm/1064nm双波长

检测范围

1. 光学棱镜：直角棱镜、五角棱镜、屋脊棱镜等

2. 激光系统组件：谐振腔反射镜、扩束器棱镜

3. 光纤通信器件：波分复用器棱镜、光隔离器核心件

4. 光学镀膜材料：介质高反膜、金属反射膜基板

5. 精密仪器部件：干涉仪参考镜、光谱仪分光元件

检测方法

1. ASTM E903-12：采用积分球光谱仪测定材料反射率

2. ISO 10110-5:2015：激光干涉法评估表面面形精度

3. GB/T 1185-2006：自准直仪配合多齿分度台测量角度偏差

4. ISO 4287:1997：白光干涉仪进行三维表面粗糙度分析

5. GB/T 26331-2010：椭偏仪测量光学薄膜厚度及折射率

检测设备

1. Zygo Verifire MST干涉仪：波长632.8nm，精度λ/1000 PV

2. Taylor Hobson CCI HD非接触轮廓仪：垂直分辨率0.01nm

3. Newport M-UMR150自准直仪：角度分辨率0.1"，量程±1000"

4. PerkinElmer Lambda 1050+积分球系统：光谱范围175-3300nm

5. Bruker ContourGT-K光学轮廓仪：50×物镜，横向分辨率0.35μm

6. Trioptics OptiAngle MM测角仪：360°全自动角度测量系统

7. Agilent 5500原子力显微镜：扫描范围90×90μm²，Z轴分辨率0.1nm

8. Horiba UVISEL 2椭偏仪：光谱范围190-2100nm，膜厚测量精度±0.1nm

9. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪：最大驱动速度0.75mm/s，评估长度5mm

10. OptoTech PM60平面干涉仪：直径600mm大口径平面检测能力

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。