因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 导电性能：测量电阻率（≤5×10⁻⁶ Ω·cm）与方阻（0.1-10 Ω/sq）

2. 膜层厚度：采用XRF测定金属层厚度（50-500 nm）

3. 附着力测试：划格法评估结合强度（≥5B等级）

4. 表面粗糙度：白光干涉仪测量Ra值（≤0.1 μm）

5. 耐腐蚀性：盐雾试验48小时无氧化点

6. 热稳定性：300℃高温老化后电阻变化率≤3%

7. 成分分析：EDS检测元素含量偏差±0.5%

检测范围

1. 半导体晶圆镀膜电极（Al/Cu/TiN）

2. 薄膜太阳能电池透明导电层（ITO/AZO）

3. 锂离子电池集流体（Al箔/Cu箔）

4. MEMS传感器金电极

5. OLED显示面板阴极（Mg-Ag合金）

6. 陶瓷基板印刷银电极

7. 柔性电路板溅射铜薄膜

检测方法

1. ASTM B193-20 导电材料电阻率标准测试

2. ISO 2178:2016 非磁性基体金属镀层厚度测量

3. GB/T 9286-2021 色漆清漆划格试验法

4. ISO 4287:1997 表面粗糙度轮廓法术语定义

5. GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验盐雾试验

6. JIS H8504:2020 金属镀层结合强度试验方法

7. ASTM E1257-16 辉光放电光谱元素分析

检测设备

1. KEITHLEY 2450源表：四探针法电阻率测量

2. Fischer XDV-SDD XRF测厚仪：0.1nm分辨率

3. Bruker ContourGT-K白光干涉仪：0.01nm垂直分辨率

4. Instron 5944万能材料试验机：0.001N力值精度

5. Thermo Scientific Niton XL5 XRF光谱仪：元素ppm级检测

6. ESPEC STH-120盐雾箱：±1℃温控精度

7. Hitachi SU5000场发射电镜：1nm成像分辨率

8. Agilent 4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频率范围

9. Netzsch DIL402C热膨胀仪：0.1nm位移分辨率

10. Mitutoyo SJ-410粗糙度仪：16μm量程±12%精度

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。