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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1. 晶体取向测定:测量晶轴与样品表面夹角偏差(±0.05°精度)
2. 晶格畸变分析:检测晶面间距变化量(分辨率达10⁻⁴ nm)
3. 位错密度评估:量化缺陷密度(检出限1×10⁶ cm⁻²)
4. 孪晶结构识别:判定孪生面指数({111}系误差≤0.3°)
5. 应力分布测绘:表征残余应力梯度(灵敏度±10 MPa)
1. 金属单晶材料:镍基高温合金涡轮叶片定向凝固组织验证
2. 半导体晶圆:SiC衬底外延生长质量评估
3. 功能陶瓷:压电材料Pb(Zr,Ti)O₃畴结构表征
4. 地质矿物:石英晶体双晶现象定量分析
5. 超导材料:YBCO薄膜织构度测定
1. ASTM E1426-14:X射线背反射劳厄照相标准规程
2. ISO 22278:2020:晶体缺陷表征的劳厄衍射实施指南
3. GB/T 30704-2014:多晶材料X射线衍射分析方法
4. GB/T 19501-2013:电子背散射衍射分析方法通则
5. DIN 50370-3:2019:晶体取向测定技术规范
1. Rigaku SmartLab 9kW:配备HyPix-3000二维探测器(像素尺寸100μm)
2. Bruker D8 Discover Vantec-500:集成激光定位系统(定位精度±5μm)
3. PANalytical Empyrean:配置Cross Beam Optics多轴测角仪
4. Proto LXRD:专用残余应力分析模块(ψ角范围±45°)
5. HUBER G670:高温劳厄相机(工作温度1600℃)
6. Oxford Diffraction Xcalibur E:四圆测角仪(角度重复性0.0001°)
7. Shimadzu XRD-7000:自动样品台(承载能力5kg)
8. Malvern Panalytical X'Pert3 MRD:高分辨率三轴准直器
9. STOE STADI P:透射式劳厄系统(最小束斑50μm)
10. Incoatec IµS微焦斑光源:焦斑尺寸30μm(Mo靶Kα辐射)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。