因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 掺杂元素浓度测定：包括Er³⁺（铒）、Yb³⁺（镱）等稀土离子浓度检测，精度范围±0.5 ppm

2. 分布均匀性分析：通过EPMA测量纵向/横向掺杂偏差值（≤3%）

3. 折射率变化量测试：基于干涉法测定Δn值（典型范围0.001-0.03）

4. 热稳定性评估：在-40℃至300℃温度循环下监测性能衰减率

5. 化学纯度检测：杂质元素（Fe、Cu等）含量控制≤0.1 ppb

检测范围

1. 石英基光纤预制棒：适用于Er/Yb共掺放大光纤原料

2. 氟化物玻璃光纤：检测ZrF₄-BaF₂体系中的Pr³⁺掺杂量

3. 掺锗单模光纤：GeO₂浓度梯度分布验证（0-20 mol%）

4. 光子晶体光纤：微结构区域Al/P共掺比例测定

5. 辐射硬化光纤：Ce³⁺掺杂均匀性与抗辐照性能关联分析

检测方法

1. ASTM E1479-16：电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定痕量元素

2. ISO 17331:2016：X射线光电子能谱（XPS）表面掺杂分析

3. GB/T 13746-2019：原子吸收光谱法测定稀土元素含量

4. IEC 60793-1-42：折射近场法测量折射率分布

5. GB/T 34482-2017：扫描电子显微镜结合EDS进行微区成分映射

检测设备

1. Bruker S8 TIGER X射线荧光光谱仪：实现ppm级元素定量分析

2. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：检测限达0.01 ppt的痕量杂质分析

3. Shimadzu EPMA-8050G电子探针：空间分辨率1μm的掺杂分布测绘

4. Agilent Cary 7000紫外可见近红外分光光度计：吸收谱特征峰解析

5. PerkinElmer STA 8000同步热分析仪：热重-差热联用稳定性测试

6. Zygo NewView 9000白光干涉仪：纳米级折射率剖面测量

7. Hitachi SU8220冷场发射电镜：配合EDS完成亚微米级成分表征

8. Keysight N7788B光波元件分析仪：1550nm波段传输损耗精确测定

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。