因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 镀层厚度：采用X射线荧光法（XRF）测量，精度±0.1μm，范围0.5-500μm。

2. 金属成分分析：通过ICP-OES检测镍、铜、钴等元素含量偏差≤0.5%。

3. 表面粗糙度：轮廓仪测试Ra值（0.05-10μm），符合ISO 4287标准。

4. 显微硬度：维氏硬度计（HV）测试镀层硬度（200-1200HV），载荷10-500g。

5. 孔隙率评估：硝酸蒸汽暴露法测定单位面积孔隙数量（≤5个/cm²）。

检测范围

1. 精密模具电铸件：如光学透镜模仁、微注塑模具。

2. 电子元件：包括连接器触点、射频屏蔽罩。

3. 医疗器械：手术器械镀层、植入物表面处理。

4. 航空航天部件：涡轮叶片隔热涂层、卫星天线反射面。

5. 珠宝首饰：贵金属电铸饰品结构完整性检测。

检测方法

1. ASTM B748-90(2021)：电沉积层厚度X射线光谱测定法。

2. ISO 4524-5:2020：金属镀层结合强度划痕试验法。

3. GB/T 12334-2001：金属覆盖层孔隙率腐蚀试验方法。

4. ASTM E384-22：材料显微硬度标准测试方法。

5. GB/T 6462-2005：金属基体上金属覆盖层横截面SEM观测法。

检测设备

1. Fischer XDLM-X射线测厚仪：分辨率0.01μm，支持多层镀层分析。

2. Bruker DektakXT轮廓仪：垂直分辨率0.1nm，扫描长度55mm。

3. Thermo Scientific iCAP PRO ICP-OES：检出限低至ppb级元素分析。

4. ZwickRoell HVS-1000显微硬度计：自动加载系统（10-1000g）。

5. Keyence VHX-7000数码显微镜：5000倍超景深三维成像。

6. Gamry Reference 600+电化学工作站：极化曲线法腐蚀速率测试。

7. Zeiss Sigma 500场发射SEM：1nm分辨率镀层截面观测。

8. Elcometer 456涂层测厚仪：磁性/涡流双原理测量。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。