因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 表面覆盖度：测量单分子层面积占比（0-100%），精度±0.5%

2. 分子层厚度：分辨率0.1nm（AFM模式），量程0.5-50nm

3. 元素组成分析：EDS能谱检测限0.1at%，XPS探测深度<3nm

4. 晶格取向偏差：电子背散射衍射角分辨率±0.1°

5. 界面结合能：接触角测量精度±0.5°，表面能计算误差<1mJ/m²

检测范围

1. 二维材料：石墨烯/二硫化钼单层膜（厚度≤0.7nm）

2. 有机自组装膜：硫醇类/硅烷类单分子层（厚度1-3nm）

3. 金属氧化物涂层：ALD沉积Al₂O₃/TiO₂薄膜（厚度0.1-5nm）

4. 生物分子膜：磷脂双分子层/蛋白质吸附层（厚度2-10nm）

5. 半导体钝化层：Si/SiO₂界面过渡层（厚度0.5-2nm）

检测方法

1. ASTM E2865-12(2020) X射线反射法测定薄膜厚度

2. ISO 18115-2:2021 表面化学分析术语标准

3. GB/T 30704-2014 X射线光电子能谱分析方法通则

4. ISO 15472:2010 XPS仪器能量标校准规范

5. GB/T 19588-2017 纳米薄膜厚度测量（椭圆偏振法）

检测设备

1. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：PeakForce Tapping模式实现0.1nm垂直分辨率

2. Thermo Scientific K-Alpha XPS光电子能谱仪：单色化Al Kα源（1486.6eV）

3. Zeiss Merlin Compact扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV, STEM模式可达0.2nm

4. Horiba UVISEL 2椭偏仪：190-2100nm光谱范围，膜厚重复性±0.01nm

5. Agilent 5500 SPM系统：导电AFM与开尔文探针联用技术

6. Bruker D8 Advance X射线衍射仪：平行光束几何结构测量超薄膜

7. Malvern Zetasizer Nano ZSP：动态光散射分析分子层流体力学半径

8. Keysight 5500LS AFM/STM联用系统：隧道电流灵敏度10pA

9. Park Systems NX20大气环境AFM：非接触模式扫描速度50Hz

10. Oxford Instruments AZtecLive EDS系统：大面积面扫时间分辨率10ms/pixel

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。