因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 温度示值误差：测量范围（300-3000℃），允许误差±(0.5%FS+1℃)

2. 重复性测试：连续10次测量标准差≤0.3%FS

3. 稳定性考核：4小时漂移量≤0.5%FS

4. 波长响应匹配度：双波长比（λ1/λ2）偏差≤±2nm

5. 视场角影响量：不同入射角（0°-45°）温差≤1.5%FS

6. 环境适应性：工作温度（-20℃~50℃）附加误差≤0.8%FS

检测范围

1. 金属材料热处理过程测温：包括不锈钢（304/316）、钛合金（TC4）、高温合金（GH4169）

2. 玻璃制品成型控温：涵盖钠钙玻璃（SiO₂≥72%）、硼硅玻璃（B₂O₃≥12%）

3. 陶瓷烧结过程监测：氧化铝陶瓷（Al₂O₃≥95%）、氮化硅陶瓷（Si₃N₄≥90%）

4. 高分子材料加工测温：聚四氟乙烯（PTFE）、聚醚醚酮（PEEK）

5. 复合材料固化监控：碳纤维/环氧树脂（CFRP）、玻璃纤维/聚酯（GFRP）

检测方法

1. ASTM E1256-17：辐射测温系统响应时间测试方法

2. ISO 18434-1:2008：热成像系统校准规范

3. GB/T 30429-2013：工业光电比色高温计检定规程

4. JJG 856-2015：工作用辐射温度计检定规程

5. IEC 62460:2008：辐射测温系统不确定度评估方法

6. GB/T 16839.1-2018：热电偶补偿导线技术规范

检测设备

1. Fluke 1551A红外测温仪校准器：量程（-18℃~1200℃），分辨率0.1℃

2. OMEGA CL351R黑体辐射源：发射率ε≥0.995，温控精度±0.3℃

3. Keysight 34972A数据采集系统：6½位数字万用表，扫描速率250通道/秒

4. Labsphere SSR-50光谱反射率测试仪：波长范围380-2500nm

5. Isotech R976干式温度校验炉：工作区均匀度±0.25℃

6. Optris CTlaser 3M激光比色测温仪：双波长（1μm/1.6μm），响应时间10ms

7. FLIR A655sc热像仪校准装置：NETD＜30mK@30℃

8. Agilent 34461A数字万用表：基本DCV精度±0.0035%

9. Newport 818-ST2-UVH光电探测器：波长范围200-1800nm

10. Ametek JOFRA RTC-700黑体炉：最高温度1600℃，孔径φ50mm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。