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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1. 晶格常数测定:误差范围≤0.001Å(布拉格角校正)
2. 结晶度分析:非晶/结晶相比例计算(Rietveld法)
3. 晶粒尺寸计算:Scherrer方程拟合(5-200nm量程)
4. 相含量定量:全谱拟合精度±0.5wt%
5. 择优取向校正:ODF取向分布函数建模
1. 金属粉末:钛合金/铝合金/高温合金粉体
2. 陶瓷材料:氧化锆/碳化硅/氮化铝粉体
3. 催化剂载体:γ-Al₂O₃/分子筛/活性炭
4. 制药原料:API晶体多型体/共晶物
5. 电池材料:NCM三元正极粉/LiFePO₄
1. ASTM E2865-12:XRD全谱拟合标准规程
2. ISO 13779-3:羟基磷灰石结晶度测定
3. GB/T 23413-2009:纳米材料晶体尺寸测定
4. JIS K 0131:残余应力分析测试方法
5. GB/T 30904-2014:无机化工产品晶相分析
1. PANalytical Empyrean XRD:配备PIXcel3D探测器(角度重现性0.0001°)
2. Bruker D8 ADVANCE:LynxEye阵列探测器(扫描速度10000cps)
3. Rigaku SmartLab SE:交叉光路光学系统(最小步长0.0001°)
4. Malvern Mastersizer 3000:粒径分布辅助分析(0.01-3500μm)
5. FEI Nova NanoSEM 450:EBSD晶体取向分析(分辨率1nm)
6. Netzsch STA 449 F3:同步热分析联用(DSC-TG联用)
7. Anton Paar XRDynamic 500:原位高温附件(最高1600℃)
8. Shimadzu XRD-7000:薄膜专用测角仪(ψ角旋转±90°)
9. Thermo ARL EQUINOX 1000:动态曝光控制技术(μ-XRD模式)
10. Malvern Panalytical X'Pert³ MRD:高分辨三轴测角仪(ω/2θ独立驱动)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。