因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 硅元素总量测定：测量范围0.001%-99.9%，精度±0.005%

2. 二氧化硅（SiO₂）含量：测定精度±0.01%，适用浓度0.01%-100%

3. 游离硅（Si）含量：检出限0.0001%，高温挥发法测定

4. 碳化硅（SiC）纯度分析：XRD法定量误差≤0.3%

5. 有机硅化合物残留：GC-MS法检出限0.1ppm

检测范围

1. 金属合金：铝合金（Si 0.1%-12%）、铸铁（Si 1%-3%）

2. 建筑材料：玻璃（SiO₂ 70-75%）、陶瓷原料（高岭土SiO₂ 45-50%）

3. 电子材料：单晶硅片（纯度≥99.9999%）、光伏组件封装胶膜

4. 化工产品：硅橡胶（SiO₂填料20-50%）、硅油（有机硅含量≥98%）

5. 环境样品：土壤有效硅（0-200mg/kg）、工业废水溶解性硅酸盐

检测方法

1. ASTM E1621-22：X射线荧光光谱法测定金属中总硅量

2. ISO 21068-2:2008：碳化硅耐火材料化学分析方法

3. GB/T 14837-2018：橡胶及其制品中二氧化硅含量的测定

4. GB/T 6730.10-2014：铁矿石中二氧化硅的重量法测定

5. ISO 21587-3:2007：铝硅酸盐耐火材料电感耦合等离子体发射光谱法

检测设备

1. Thermo Scientific Niton XL5 XRF光谱仪：现场快速筛查金属合金含硅量

2. PerkinElmer Avio 500 ICP-OES：痕量级元素定量分析（检出限0.01ppm）

3. Bruker S8 TIGER波长色散XRF：高精度测定玻璃/陶瓷中SiO₂含量

4. Shimadzu XRD-7000 X射线衍射仪：碳化硅晶型与纯度分析

5. Mettler Toledo TGA/DSC3+热重分析仪：有机硅化合物热分解特性测试

6. Agilent 8890 GC-MS系统：有机硅残留物定性定量分析

7. ELTRA ONH-p2000氧氮氢分析仪：高纯硅中杂质元素测定

8. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：二氧化硅填料粒径分布测试

9. Metrohm 859 Titrotherm全自动滴定仪：酸碱滴定法测可溶性硅酸盐

10. HORIBA LabRAM HR Evolution显微拉曼光谱仪：纳米级硅材料结构表征

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。