因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 体积电导率：测量材料单位体积导电能力（S/m或S/cm），典型范围10^-8-10⁸ S/m

2. 表面电导率：评估材料表面电荷迁移特性（S/□），精度±0.5%

3. 电阻率温度系数：测定20-300℃区间变化率（%/℃），符合IEC 60468标准

4. 载流子浓度：半导体材料关键参数（cm^-3），霍尔效应法测量

5. 各向异性电导率：三维方向导电差异分析（X/Y/Z轴比值）

检测范围

1. 金属材料：铜合金（C11000/C17200）、铝合金（6061/7075）等

2. 半导体材料：硅晶圆（N/P型）、GaN衬底、碳化硅晶片

3. 导电高分子材料：聚苯胺薄膜（厚度50-200μm）、PEDOT:PSS复合材料

4. 纳米导电材料：银纳米线（直径20-100nm）、石墨烯薄膜（层数1-10层）

5. 功能涂层：ITO透明导电膜（方阻5-100Ω/□）、抗静电环氧涂层

检测方法

1. ASTM B193-20：金属导体电阻率标准测试方法（四探针法）

2. ISO 3915:2021：炭黑材料导电特性测定（压缩粉末法）

3. GB/T 2439-2001：硫化橡胶导电性能试验规程

4. IEC 62631-3-1:2016：聚合物体积电阻率测量（三电极系统）

5. JIS K7194:2017：塑料导电性四点探针测试法

检测设备

1. Keithley 6517B静电计：10^-17A分辨率，支持10³V高压输出

2. Agilent 4338B毫欧表：0.1μΩ-100kΩ量程，四线制测量

3. Loresta-GX MCP-T700：四探针电阻测试仪（0.01mΩ·cm-10MΩ·cm）

4. Jandel RM3000+测试台：自动切换探针间距（0.635mm-25.4mm）

5. Lake Shore 8400系列霍尔效应系统：0.05T-2T磁场强度可调

6. Netzsch TMA 402 F3 Hyperion：高温电导率同步热分析（RT-1550℃）

7. Mitsubishi Chemical MCP-PD51：粉末材料专用电阻率测试装置

8. Keysight B2902A精密源表：100fA分辨率数字源表

9. Cascade Summit 12000探针台：12英寸晶圆级电性能测试平台

10. BRUKER Dimension Icon AFM：纳米级导电原子力显微镜

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。