因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 三维形貌分析：Z轴分辨率≤0.1μm，横向扫描精度±0.5%

2. 表面粗糙度测量：Ra 0.1-10μm（符合ISO 4287），Rz/Rt参数偏差≤3%

3. 微观几何尺寸测量：直径/间距测量误差≤±0.2μm（基于GB/T 24632）

4. 台阶高度测定：量程0.5-500μm，重复性误差≤0.05%

5. 表面缺陷识别：最小可检缺陷尺寸0.3μm（ASTM E1245）

检测范围

1. 精密机械零件：轴承滚道、齿轮啮合面等微米级加工件

2. 光学元件：透镜非球面度、衍射光栅周期结构

3. 电子元器件：BGA焊球共面性、芯片引脚平整度

4. 生物医学材料：人工关节表面涂层、齿科修复体咬合面

5. 薄膜材料：光伏电池镀层厚度、柔性电路板微结构

检测方法

1. 白光干涉法：依据ISO 25178进行三维表面纹理分析

2. 共聚焦显微术：按GB/T 34879实现亚微米级层析成像

3. 相位偏移法：满足ASTM B748的台阶高度测量要求

4. 数字图像相关法：执行GB/T 34109标准进行全场应变分析

5. 频闪照明技术：符合ISO 16610对动态表面特征的捕捉规范

检测设备

1. Keyence VR-6000：配备20×~200×电动变倍物镜，Z轴重复精度0.008μm

2. Olympus DSX1000：支持6轴观察系统，实现±1%的尺寸测量精度

3. Bruker ContourGT-X3：白光干涉系统支持100mm×100mm大视场扫描

4. Zeiss Smartproof 5：共聚焦显微镜系统具备785nm激光光源

5. Nikon NEXIV VMZ-S656F：集成双CCD系统实现实时三维重构

6. Mitutoyo Quick Vision Active：配备0.5μm光栅尺的CNC测量平台

7. Hexagon Optiv Performance 443：多传感器系统支持接触/非接触复合测量

8. Alicona InfiniteFocus G5：轴向分辨率达10nm的变焦光学系统

9. Zygo NewView 9000：相位偏移干涉仪支持0.1nm级表面粗糙度分析

10. Sensofar S neox：三合一光学系统兼容共聚焦/干涉/聚焦变异模式

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。