因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 位错误率（BER）测试：测量单位时间内错误比特占比（典型值≤1E-12）

2. 时钟抖动分析：量化周期抖动（PJ）≤50ps RMS

3. 信号完整性验证：上升时间≤100ps（@20%-80%）

4. 噪声抑制比测试：信噪比≥30dB@1GHz

5. 逻辑电平容差：±10% Vcc波动下的状态保持能力

检测范围

1. 半导体集成电路：FPGA/ASIC芯片的I/O端口

2. 高速通信模块：PCIe 5.0/6.0接口板

3. 存储介质：NAND闪存单元阵列

4. 嵌入式系统：ARM/RISC-V处理器总线

5. 工业控制设备：CAN总线通信节点

检测方法

1. ASTM F1153-10(2020) 数字信号时序特性测量规程

2. ISO/IEC 9241-411:2017 人机交互界面误码测试

3. GB/T 15532-2008 计算机软件测试规范

4. IEC 62132-4:2006 集成电路电磁抗扰度测试

5. JESD228-2021 DDR5 SDRAM信号完整性验证

检测设备

1. Keysight DSAZ634A示波器（110GHz带宽，256GSa/s采样率）

2. Tektronix BERTScope BSX系列误码率测试仪（支持56Gbps PAM4）

3. Rohde&Schwarz RTP164B逻辑分析仪（16通道/40GHz）

4. Advantest T2000 SoC测试系统（1024数字通道）

5. Anritsu MP1900A信号质量分析仪（32Gbaud速率）

6. National Instruments PXIe-5164数字化仪（14位分辨率）

7. Chroma 3380电源噪声模拟器（±5%纹波注入）

8. Teradyne UltraFLEXplus测试平台（支持HBM IO测试）

9. Xilinx VCU128开发板（用于FPGA原型验证）

10. Fluke Ti450红外热像仪（芯片温度分布监测）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。