因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 银层厚度测定：采用X射线荧光法（XRF），测量范围0.1-50μm

2. 氧化钴含量分析：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES），精度±0.05%

3. 表面粗糙度测试：白光干涉仪测量Ra值（0.01-10μm）

4. 结合强度测试：划格法（ASTM D3359）评估附着力等级

5. 耐腐蚀性能：中性盐雾试验（GB/T 10125），测试周期24-240h

检测范围

1. 电子接插件镀银氧化钴涂层

2. 光伏导电银浆复合材料

3. 高温合金防护涂层

4. 核工业控制棒表面处理层

5. 航天器电磁屏蔽镀层

检测方法

1. ASTM B568-18：X射线光谱法测定金属镀层厚度

2. ISO 3497:2000：多涂层体系成分分析标准

3. GB/T 12305.2-2021：金属覆盖层孔隙率测试规范

4. ASTM E1479-16：ICP-OES元素分析标准方法

5. GB/T 1771-2007：色漆和清漆耐中性盐雾性能测定

检测设备

1. Thermo Scientific Niton XL5 XRF光谱仪：非破坏性镀层厚度测量

2. PerkinElmer Avio 550 ICP-OES：痕量元素定量分析系统

3. Zygo NewView 9000白光干涉仪：三维表面形貌表征

4) Q-Fog CCT1100盐雾试验箱：符合ASTM B117标准腐蚀测试

5) Elcometer 1540划格测试仪：自动划痕附着力评估

6) Hitachi SU5000场发射电镜：微观结构观察（50万倍）

7) MTS Criterion万能材料试验机：结合强度定量测试（500N）

8) Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：物相结构分析（2θ角5-90°）

9) Metrohm 905 Titrando电位滴定仪：钴价态定量分析

10) PARSTAT 4000电化学工作站：极化曲线/阻抗谱测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。