因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 电子逸出功测定：测量范围0.5-6.0eV，精度±0.02eV

2. 热发射电流密度：测试条件300-1200K，分辨率1μA/cm²

3. 能谱分布分析：能量分辨率0.15eV@5eV

4. 表面功函数分布：扫描步长10μm，空间分辨率5μm

5. 热驰豫时间常数：时间窗口10ns-10s，温度稳定性±0.5K

检测范围

1. III-V族半导体材料（GaAs、InP等）表面态分析

2. 金属氧化物阴极涂层（BaO/W、Sc₂O₃/Ir）发射性能测试

3. 碳基场发射材料（纳米管/石墨烯）热稳定性评估

4. 真空电子器件（行波管/磁控管）阴极寿命预测

5. 光伏材料（钙钛矿/CIGS）界面复合特性研究

检测方法

ASTM F1461-11 热电子发射材料测试规程

ISO 18503:2015 表面分析-热激发电子能谱法

GB/T 3139-2005 阴极电子发射性能试验方法

GB/T 20234-2018 半导体材料逸出功测定规程

IEC 60300-3-11 可靠性测试-热电子器件评估

检测设备

1. KEITHLEY 4200-SCS：宽温区（77-1273K）I-V特性测试系统

2. SPECS PHOIBOS 150：半球形能量分析器（能量分辨率<0.1eV）

3. RIGAKU SmartLab：高温X射线衍射仪（最高1600K）

4. AGILENT B1500A：半导体参数分析仪（10aA电流灵敏度）

5. OXFORD Instruments IPS120：超真空系统（极限真空5×10⁻¹⁰mbar）

6. HORIBA LabRAM HR：显微拉曼光谱仪（空间分辨率250nm）

7. THERMO SCIENTIFIC ESCALAB Xi+：X射线光电子能谱仪

8. KEITHLEY 2636B：双通道源表（脉冲模式10MHz）

9. BRUKER Dimension Icon：原子力显微镜（加热台选项）

10. ADVANTEST R6243：皮安电流计（最小量程100fA）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。