因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.绝缘电阻测试：DC500V-1000V电压下测量≥10¹²Ω

2.介电强度验证：AC3kV/mm梯度加压至击穿阈值

3.温度循环试验：-55℃~+150℃循环100次后功能验证

4.高频阻抗分析：10MHz-6GHz频段内S参数测量

5.热阻系数测定：ΔT≤0.5℃/W@25℃基准温度

检测范围

1.III-V族半导体材料（GaAs/GaN基器件）

2.低温共烧陶瓷基板（LTCC）

3.高密度互连PCB（HDI8层以上）

4.功率模块封装体（IGBT/SiCMOSFET）

5.微波射频集成电路（MMIC）

检测方法

ASTMD257-14：绝缘材料体积电阻率测定

IEC60250：高频介电性能测试规范

GB/T1408.1-2016：固体绝缘材料电气强度试验

JESD22-A104E：温度循环加速老化试验

IPC-TM-6502.5.5.7：高频阻抗特性测试方法

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪（I-V/C-V特性测试）

2.TektronixDPO70404C示波器（4GHz带宽信号采集）

3.ESPECTSE-11-A温度冲击箱（30℃/min温变速率）

4.AgilentE5061B网络分析仪（300kHz-3GHz阻抗测量）

5.Chroma19032耐压测试仪（AC5kV/DC6kV输出）

6.HiokiIM3570阻抗分析仪（4Hz-5MHz频率范围）

7.FlukeTi450红外热像仪（≤0.05℃热灵敏度）

8.ThermoScientificCROSSMANNLFA467激光导热仪（ASTME1461标准）

9.MitsubishiHV-100S高阻计（10¹⁶Ω量程）

10.PTR1100脉冲式热阻测试系统（JEDECJESD51-14规范

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。