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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
1. 配位键长测量:精度±0.001Å,测定中心原子与配位原子间距
2. 键角分布分析:角度分辨率0.1°,统计配位多面体顶点夹角
3. 配位数测定:基于径向分布函数计算第一配位层原子数
4. 多面体畸变度评估:采用八面体因子(σ²)或四面体角方差(TAV)量化畸变
5. 电子密度拓扑分析:通过Bader电荷划分确定原子间相互作用强度
1. 金属有机框架(MOFs):包括ZIF系列、MIL系列等晶态多孔材料
2. 无机钙钛矿材料:ABX₃型晶体结构中的B位配位环境分析
3. 过渡金属氧化物:如尖晶石型氧化物、层状钴酸盐等
4. 纳米催化剂:贵金属/载体界面处的配位结构表征
5. 非晶合金材料:短程有序结构的局域配位环境解析
1. X射线衍射(XRD):ASTM E1426-14标准下的Rietveld精修法
2. 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS):ISO 20884:2019同步辐射测试规程
3. 电子能量损失谱(EELS):GB/T 23413-2009透射电镜分析方法
4. 中子对分布函数(PDF):GB/T 36083-2018非晶材料结构解析标准
5. 拉曼光谱分析:ISO 20310:2018配位振动模式识别规范
1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪:配备HyPix-3000探测器,角度重复性±0.0001°
2. FEI Talos F200X透射电镜:配备SuperX EDS系统,空间分辨率0.16nm
3. Bruker D8 ADVANCE XRD系统:配置VANTEC-500二维探测器
4. Thermo Fisher Nexsa XPS系统:单色化Al Kα光源,能量分辨率<0.5eV
5. Malvern Panalytical Empyrean XRD平台:具备PDFgetX3数据处理模块
6. JEOL JEM-ARM300F球差校正电镜:可实现原子级配位环境成像
7. PerkinElmer STA 8000同步热分析仪:联用质谱进行原位结构演变研究
8. Anton Paar HTK 1200N高温反应室:支持1600℃环境下的原位XRD测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。