因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 体积电阻率：测量范围10^-6-10¹⁴ Ω·cm

2. 表面电阻率：测试精度±1%，量程10³-10¹⁶ Ω/sq

3. 电导率温度系数：温度范围-70℃~300℃，分辨率0.01%/℃

4. 接触电阻：压力控制0.1-5N，重复性误差≤2%

5. 介电常数：频率范围1kHz-1MHz，相对误差±0.5%

检测范围

1. 金属材料：铜(C11000)、铝(6061-T6)等导体材料

2. 半导体材料：单晶硅(111)、砷化镓(GaAs)等晶圆片

3. 高分子复合材料：碳纤维增强塑料(CFRP)、导电聚苯胺(PANI)

4. 电子元器件：PCB板镀层、连接器触点镀金层

5. 纳米材料：石墨烯薄膜(厚度2-10nm)、碳纳米管阵列

检测方法

1. ASTM B193-20《导电材料电阻率标准试验方法》

2. ISO 3915:2021《塑料材料体积电阻率测定》

3. GB/T 3048.3-2007《电线电缆电性能试验方法 第3部分》

4. IEC 60093:1980《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》

5. JIS K7194:2017《导电塑料电阻率测试四点探针法》

检测设备

1. KEITHLEY 2450源表：四探针法电阻测试，支持10nV-200V电压输出

2. HIOKI RM3545电阻计：分辨率0.01μΩ，最大电流10A直流测试

3. AGILENT E4980A LCR表：频率20Hz-2MHz介电特性分析

4. LORESTA-GP MCP-T610四探针仪：薄膜材料方阻测量精度±0.5%

5. MODEL 152-1表面电阻测试仪：符合ASTM D257标准要求

6. ESPEC PCT-322温控箱：温度循环测试范围-70℃~150℃

7. ZEM-3热电分析系统：塞贝克系数与电导率同步测量

8. BRUKER DektakXT轮廓仪：薄膜厚度与导电层均匀性分析

9. JANDEL RM3000+四探针台：晶圆级电阻率Mapping测试

10. FLUKE 1587绝缘测试仪：500V/1000V耐压绝缘电阻检测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。