因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 总厚度测量：量程0.1-50mm，精度±0.5μm

2. 分层厚度比测定：单层分辨率≤0.2μm

3. 界面结合强度测试：载荷范围0.1-50kN

4. 层间均匀性分析：横向偏差≤±3%

5. 热膨胀系数匹配性：温度范围-70℃~300℃

检测范围

1. 金属基复合材料（铝/钛合金叠层）

2. 高分子涂层材料（PTFE/PEEK复合膜）

3. 陶瓷涂层材料（Al₂O₃/TiO₂梯度涂层）

4. 电子元件封装材料（环氧树脂/硅胶复合层）

5. 光学镀膜材料（SiO₂/Ta₂O₅多层膜系）

检测方法

ASTM B487-20 横截面显微测量法

ISO 1463:2021 磁性基体非磁性涂层测厚法

GB/T 6462-2005 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜法

GB/T 11344-2021 超声波脉冲回波测厚规范

ISO 2178:2016 非磁性基体磁性镀层测厚法

检测设备

1. Olympus OmniScan X3：64阵元相控阵超声探头

2. Mitutoyo LSM-902S：激光扫描显微镜（1200×分辨率）

3. Fischer MP0R-S：磁感应/涡流双模测厚仪

4. Zeiss Axio Imager M2m：金相显微镜（5000×放大）

5. Instron 6800系列：微机控制万能试验机

6. Keyence VHX-7000：三维超景深显微系统

7. Elcometer 456：涂层测厚仪（四合一探头）

8. Hitachi SU5000：热场发射扫描电镜

9. Netzsch DIL 402 Expedis：热膨胀系数测定仪

10. Bruker ContourGT-X3：白光干涉三维轮廓仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。