因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.偏钛酸铁主含量测定（FeTiO₃）：采用XRF/ICP-OES法测定Fe/Ti摩尔比（0.95-1.05）

2.杂质元素分析：Al≤0.15%、Si≤0.08%、Ca≤0.05%（ICP-MS法）

3.晶型结构表征：XRD法测定锐钛矿/金红石相比例（误差1.5%）

4.粒径分布测试：激光粒度仪D50值（0.5-10μm）及Span值≤1.8

5.化学稳定性评估：pH=3-11溶液浸泡24h溶出率≤0.3%

检测范围

1.工业催化剂载体材料（SCR脱硝催化剂前驱体）

2.特种陶瓷原料（介电陶瓷基体组分）

3.电子元件材料（MLCC介质层原料）

4.防腐涂料添加剂（耐候型颜料基料）

5.锂离子电池正极材料前驱体

检测方法

ASTME1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》

ISO12677:2011《耐火材料X射线荧光化学分析》

GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》

GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

JISK0133:2007《X射线衍射定量分析通则》

检测设备

1.RigakuSmartLab9kWX射线衍射仪（晶型结构分析）

2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES（元素定量分析）

3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（粒径分布测试）

4.ThermoFisherESCALABXi+XPS光电子能谱仪（表面元素分析）

5.ShimadzuEDX-7000X射线荧光光谱仪（主成分快速筛查）

6.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪（BET比表面积测定）

7.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪（热稳定性测试）

8.Agilent7900ICP-MS（痕量杂质元素检测）

9.BrukerD8ADVANCEXRD系统（原位高温相变分析）

10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪（分子结构表征）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。