因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.纯度分析：采用HPLC法测定主成分含量（≥99.5%）

2.锗元素含量：ICP-OES法测定锗占比（理论值21.3%0.5%）

3.有机杂质：GC-MS法检测残留单体（≤0.1%）

4.水分含量：卡尔费休法测定游离水（≤200ppm）

5.残留溶剂：顶空GC法测定甲苯/丙酮（≤50ppm）

6.热稳定性：TGA法测定分解温度（≥280℃）

7.粒径分布：激光粒度仪D50值（1-5μm）

检测范围

1.半导体前驱体材料

2.医药中间体合成原料

3.高分子复合材料添加剂

4.电子元件封装材料

5.特种催化剂载体

6.光学镀膜材料

检测方法

1.纯度测定：GB/T37272-2018《有机锗化合物纯度测定》

2.元素分析：ASTMD1976-20《电感耦合等离子体发射光谱法》

3.热分析：ISO11358-1:2022《塑料热重分析法》

4.水分测试：GB/T6283-2008《化工产品水分测定通用方法》

5.残留溶剂：GB/T33308-2016《有机溶剂残留量测定》

6.粒径测试：ISO13320:2020《激光衍射法粒度分析》

检测设备

1.Agilent1260InfinityII高效液相色谱仪（纯度分析）

2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS（痕量元素检测）

3.ShimadzuGCMS-QP2020NX气相色谱质谱联用仪（有机杂质）

4.MettlerToledoV30S卡尔费休水分仪（微量水分测定）

5.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪（热稳定性测试）

6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（粒径分布）

7.Agilent7890B顶空气相色谱仪（残留溶剂分析）

8.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪（晶体结构验证）

9.Metrohm905Titrando电位滴定仪（官能团定量）

10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪（分子结构鉴定）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。