因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.主成分纯度：采用气相色谱法测定GeCl₄含量≥99.999%（5N级）

2.氯离子含量：离子色谱法检测Cl⁻浓度范围0.1-1000ppm

3.金属杂质总量：ICP-MS测定Fe、Cu、Ni等痕量元素≤0.5ppm

4.水分含量：卡尔费休法控制H₂O≤10ppm

5.密度测定：25℃条件下密度范围1.8790.005g/cm

检测范围

1.光纤预制棒合成用高纯GeCl₄原料

2.半导体级锗外延片生产中间体

3.化学气相沉积（CVD）工艺用前驱体

4.有机锗化合物合成原料

5.电子级特种气体混合物组分

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属杂质

2.ISO3696:1987超纯水制备与痕量水分测试规范

3.GB/T11064.5-2013锂化学分析方法测定氯离子含量

4.JISK0221:2013气相色谱法测定挥发性卤化物纯度

5.GB/T37249-2018电子特气中颗粒物测试方法

检测设备

1.Agilent7900电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：ppq级痕量元素分析

2.Metrohm899Coulometric卡尔费休水分仪：0.1μg水分辨率

3.ThermoScientificiCAPPROXPSICP-OES：多元素同步定量分析

4.ShimadzuGC-2030气相色谱仪：配备FID/ECD双检测器系统

5.MettlerToledoDE40密度计：精度0.0001g/cm数字密度仪

6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm颗粒物检测

7.PerkinElmerClarusSQ8GC/MS：有机物残留定性定量分析

8.HORIBALA-960纳米粒度分析仪：悬浮颗粒Zeta电位测定

9.BrukerS8TIGER波长色散X荧光光谱仪（WDXRF）：主成分快速筛查

10.SartoriusCubisII超微量天平：0.1μg称量精度

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。