因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 金属铱纯度测定：纯度≥99.95%时允许偏差±0.02%

2. 铱基合金成分分析：Ir-Pt合金中Ir含量20%-80%区间精度±0.3%

3. 痕量杂质元素检测：Pt/Pd/Rh/Ru/Os等铂族元素检出限≤5ppm

4. 氧化铱化合物表征：IrO₂晶型结构验证（四方晶系a=4.498Å,c=3.154Å）

5. 物理性能测试：密度22.56g/cm³±0.15%，熔点2454℃±10℃

检测范围

1. 工业催化剂：石化重整催化剂中Ir负载量0.3%-1.5%

2. 电子元器件：半导体溅射靶材Ir含量99.99%-99.999%

3. 高温合金材料：航空发动机叶片涂层Ir-Al合金层厚度50-200μm

4. 贵金属制品：珠宝饰品Ir电镀层厚度0.5-3μm

5. 医疗植入物：放射性Ir-192源芯体纯度验证

检测方法

ASTM E1479-16《铂族金属火花原子发射光谱分析法》测定Ir基体含量

ISO 11494:2016《珠宝合金中Pt族元素ICP-MS检测法》适用饰品Ir含量分析

GB/T 18043-2020《贵金属X射线荧光光谱法》无损检测Ir镀层厚度

GB/T 15072.12-2008《贵金属合金化学分析方法》溶解滴定法测Ir-Pt合金组分

ISO 23547:2022《放射性同位素源芯体化学纯度测定规范》控制Ir-192源质量

检测设备

Agilent 7900电感耦合等离子体质谱仪：痕量元素检出限达0.01ppb

Thermo Scientific ARL PERFORM'X X射线荧光光谱仪：镀层厚度分辨率±0.01μm

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：波长范围165-782nm覆盖Ir特征谱线

Hitachi SU5000场发射电镜：配合EDS实现微区Ir成分面分布分析

Mettler Toledo TGA/DSC 3+热分析系统：测定Ir化合物热分解温度±1℃

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：物相分析角度重复性±0.0001°

Malvern Panalytical Empyrean XRD：薄膜应力分析精度±10MPa

Shimadzu EPMA-8050G电子探针：微区成分分析空间分辨率1μm

Leco ONH836氧氮氢分析仪：高温合金中气体元素干扰校正

GBC Scientific Optimass 9500 TOF-ICP-MS：同位素比值测定RSD＜0.05%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。